Лента новостей RSSRSS КалькуляторыКалькуляторы Вопросы экспертуВопросы эксперту Перейти в видео разделВидео

ГОСТ 11141-84

Детали оптические. Классы чистоты поверхностей. Методы контроля

Заменяет ГОСТ 11141-76

Предлагаем прочесть документ: Детали оптические. Классы чистоты поверхностей. Методы контроля. Если у Вас есть информация, что документ «ГОСТ 11141-84» не является актуальным, просим написать об этом в редакцию сайта.

Скрыть дополнительную информацию

Дата введения: 01.01.1985
06.04.1984 Утвержден Госстандарт СССР
Статус документа на 2016: Актуальный

Страница 1

Страница 2

Страница 3

Страница 4

Страница 5

Страница 6

Страница 7

Страница 8

Страница 9

Страница 10

Страница 11

Страница 12

Страница 13

Страница 14

Страница 15

Страница 16

Страница 17

Страница 18

Страница 19

Страница 20

Страница 21

Страница 22

Страница 23

/////--yv

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ДЕТАЛИ ОПТИЧЕСКИЕ

КЛАССЫ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ. МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ

ГОСТ 11141-84

Издание официальное

iU^

и* •j* Vt

5

гг

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ Москва

УДК 6817.06:006.154    Группа    П40

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ГОСТ

11141-84

ДЕТАЛИ ОПТИЧЕСКИЕ

Кмссы чистоты поверхностей. Методы контрола

Optical parts. Classes of cleanness о! surfaces. Methods of control

Взамен ГОСТ 11141-76

ОКСТУ 4491

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 6 епрепв 1984 г. N? U19 срок действия установлен

с 01.01.85 до 01.01.90

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт распространяется -на оптические детали из стекла, кристаллов, ситаллов, полимерных материалов, оптической керамики, металлов и волоконнооптические изделия и устанавливает классы чистоты и методы контроля поверхностей деталей с параметром шероховатости Rz не более 0.I мкы по ГОСТ 2789-73 после выполнения механической, ионной и других видов обра-ботки и нанесения покрытий.

1. КЛАССЫ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ

1.1.    Классы чистоты поверхностей устанавливают по допускаемым размерам, числу и расположению царапин и точек на поверхности олтической детали.

1.2.    Чистоту поверхности устанавливают в зоне, ограниченной окружностью светового диаметра О...

1.3.    В зависимости от расположения оптических деталей в приборе и их назначения -следует усм-навливать классы чистоты поверхностей:

0—10, 0—20, 0—40 — для поверхностей деталей (кроме воло-коннооптических изделий), расположенных в плоскости действительного изображения или в плоскости предметов оптической системы прибора;

I. И. Ш, IV, V. VI, VII, VIII, Villa, IX. IXa-для поверхно

стей деталей, находящихся вне плоскости действительного изобра-

Перепечатка воспрещена

Издание официально*

© Издательство стандартов, 1984

Стр. 2 ГОСТ 11141-84

жения или вне плоскости предметов оптической системы прибора. а также волоконнооптнческих изделий.

Последние две цифры обозначения классов чистоты 0—10,0—20, 0—40 указывают среднее значение фокусного расстояния оптической системы, -расположенной за нормируемой -поверхностью.

1.4.    Размеры царапин и точек для классов чистоты 0—10, О 20 и 0 40 должны быть определены в трех зонах светового диаметра 'поверхности детали: центральной, средней и краевой. Границами центральной и средней зон поверхности устанавливают концентрические окружности диаметром Vs и 2/» светового диаметра детали. Для деталей диаметром менее 5 мм указанных зон не устанавливают.

1.5.    В центральной зоне поверхности ие должно быть точек диаметром и царапин шириной более 0,001 мм.

Недопустимость точек диаметром и царапин шириной 0,001 мм и менее должна быть указана в чертежах на оптическую деталь-согласно ГОСТ 2.412-81, утвержденных в установленном порядке.

1.6.    Размеры царапин и точек в средней и краевой зонах и их число в зависимости от светового диаметра детали не должны превышать значений, указанных в табл. 1.

Таблица I

мм

Класс

ЧИСТОТЫ

Зона

Царапнви

Точки

Ширин». ие fame

Суммарная длнаа. не более

Дяакстр. яв бсиск

Число, ие Солее, пря

СИСТО0.Ж яммочх

От 6 «о 20

Св. 20

до (п

Се. 00

0-10

Средняя

0,002

0,2X0.,

0,001

1

3

5

Краевая

0.004

о.зхо!

0,006

3

6

10

0-20

Средняя

0,004

0,2Х03

0,010

1

3

5

Краевая

0.006

0,3x0^

0,015

3

6

10

0-40

Средняя

0,006

0,2X0,

0,015

1

3

5

Красная

0.008

о.зхо*

0,025

3

6

10

В любой >»егверти поверхности детали не допускаются более трех точек при световом диаметре до 60 мм включительно и более пяти точек при световом диаметре свыше 60 мм.

ГОСТ 11141—«4 Стр. 3

Царапины шириной не более 0,001 мм и тучки диаметром не более 0,002 мм в средней и краевой зонах не учитывают.

Недопустимость царапин шириной 0,001 мм и менее и точек диаметром 0.002 мм и менее в средней н краевой зонах должна быть установлена в чертежах на оптическую деталь согласно ГОСТ 2.412-81, утвержденных н установленном порядке.

1.7.    Для деталей диаметром менее 5 мм допускаемые ширина царапин и диаметр точек не должны превышать значений, установленных в табл. I для ередней зоны поверхности.

Суммарную длину царапин и число точек, допускаемых на поверхности, следует устанавливать в чертежах на оптическую деталь согласно ГОСТ 2.412-81, утвержденных в установленном порядке.

1.8.    Для деталей со штрихами и другими знаками, например шкал, сеток и др., допускается устанавливать границы зон, отличающиеся от указанных в п. 1.4. Границы зон в этих случаях должны быть указаны в чертежах на оптическую деталь по ГОСТ 2.412-81, утвержденных в установленном порядке.

1.9.    Для деталей, световая часть поверхности которых отличается от «руга или имеет нерабочие зоны, световой диаметр для расчета суммарной длины царапин и числа точек следует принимать равным полусумме «аибольшей и наименьшей осей симметрии рабочей части поверхности.

1.10.    На поверхности деталей, перемещающихся в поле зрения прибора перпендикулярно к его оптической оси (стеклянные сетки, детали со шкалами), границы зон должны быть параллельными направлению движения детали и указаны на чертеже детали.

Размеры и число дефектов на .поверхности перемещающейся детали на любом участке светового диаметра, равного диаметру линейного поля зрения прибора, должны соответствовать указанным в табл. 1.

Таблица 2

Класс

чистоты

Царапиии

Точки

Скопление хефектон

Ширила.

мм. at Соям

Суммарна» длина. мм. ис более

Диаметр.

мм.

ае бмм

Число, и» бод«*

Диаметр

ограни*

чеи«о(о

участка,

мм

Суммарная площадь царапин и то-чех. мм’, и* более

I

0,004

0,020

1.0

0,004

II

0.006

2,0X0^

0,050

0,5X0;,

1.2

0.006

III

0,010

0,100

2,0

0,020

IV

0,02

0,30

5,0

0,10

V

0.04

2,0X0^

0,50

0,5X0^

10,0

0.40

VI

0.06

0,70

25,0

3,00

Стр. 4 ГОСТ 11141—М

Продолжение табл. 2

Царапины

Точки

Слоплеиие аефмтоа

Класс

чистоты

Шкрииа.

мм.

пе более

Суммарная Д-ТЯНа. мм. не Осле?

Диаметр.

*м. не бояее

Число. не Солее

Д

отргии-

ченаого

участил.

мм

Суммарная

пдошгль «аракии и точек. чм’. не бодсе

VII

0.1

2.0X0^

1,0

0,5Х00

50,0

10.0

VIII

0.2

2,0

0,4X00

Villa

0.3

1,5ХОа

IX

2.0X0.,

3,0

О.ЗхОг

JXa

0,4

I.5XO,

Примечание. Для классов чистоты IV—VII допускается не нормировать скопление дефектов на поверхности (части поверхности) оптических деталей. Недопустимость скопления дефектов должна быть установлена в чертежах на оптические детали согласно ГОСТ 2.412-81. утвержденных в установленном порядке

1.11. На поверхностях деталей классов чистоты I—1Ха размеры царапин « точек и их число не должны .превышать значений, указанных в табл. 2.

Таблица 3

мм

Царапины

Точки

Класс

чистоты

Ширина

Суммарная длина, ив белое

Диаметр

Чисхо.

иеСодев

ш

От 0.0116 до О.ОЮ и ключ.

1.0X0,

От 0,050до0.100 зключ.

0,2ХО(,

IV

V VI

От 0.01 до 0.02 вк.поч. . 0.02 . 0.04 . 0.04 . 0.06

1.0X0*

От 0.10 до 0,30 включ. . 0,30 . 0.50 . 0.50 . 0.70 .

0,2X0^

VII

От 0.06 до 0.1 «ключ.

|.охо0

От 0.7 до 1,0 включ.

0,2x0s

VIII

. 0,1 . 0,2

От 1.0 до 2,0 включ.

Villa

IX

От 0.2 до 0,3 «ключ.

О.7хО0

i.oxo®

0.7x0®

От 2,0 до 3,0 включ.

Л 1 \/Л

IXa

От 0.3 до 0,4 включ.

ГОСТ 11141-84 Ctp. 5

1.12.    На поверхностях деталей суммарная длина царапин и число точек, близких по ширине и диа-метру к максимально допускаемым, не должны быть более указанных в табл. 3 для классов чистоты III—1Ха.

1.13.    Царапины и точки размером, указанным в табл. 4, и менее, не учитывают.

Скопления этих дефектов не учитывают, если обшая площадь участков, занятых скоплениями, не более 30% площади поверхности, ограниченной световым диаметром.

Сетку царапин но всей поверхности не учитывают при ширине царапин, указанной в табл. 4 для классов чистоты 1—IV, и при ширине не более 0,004 мм для классов чистоты V—1Ха. Допустимость этой сетки должна быть указана в чертежах на оптические детали по ГОСТ 2.412-81, утвержденных в установленном порядке.

Таблица 4

мм

Кмсс

ЧИСТОТЫ

Шири*»

иардпми. ас Сохе*

Ди*ыец> I к.-псс >?£&* "от

Шиэии* иар»п»м. не более

Дня него

точек, (Mf бдо«е

I. II

0.001

0,002 VI

0,008

0.040

III

0,002

0,004 VII

0.010

0.100

IV

О.ОСМ

0,010 Will. Villa

0.014

0,140

V

0,006

0,020 I IX, 1 Ха

0,020

0.200

1.14.    Нормирование царапин, точек, заколов и выколок на поверхности оптических деталей вне светового диаметра должно быть установлено в чертежах оптических деталей сю ГОСТ 2.412-81, утвержденных в установленном порядке.

Выколкн и заколи размером более 0,8 мм должны быть матированы. Необходимость матирования выколок и заколов размером 0,8 мм и менее должна быть установлена в чертежах оптических деталей это ГОСТ 2.412-81.

1.15.    Для различных участков деталей допускается устанавливать .различные ‘классы чистоты поверхности.

1.16.    Для обозначения классов чистоты поверхности оптических деталей используют букву Р.

Пример условного обозначения чистоты поверхности, нормируемой no VI классу чистоты:

Р VI

1.17.    Допускается устанавливать различные классы чистоты поверхности деталей по израпннам « точкам. При этом первым записывают исласс чистоты по царапинам, вторым—то точкам.

Стр 6 ГОСТ 11141 —84

Пример условного обозначения чистоты поверхности, нормируемой по V классу чистоты ло царапинам и по IV классу чистоты по точкам:

Р V/1V

1.18. Рекомендации ло выбору классов чистоты поверхности приведены в рекомендуемом приложении 1.

Класс чистоты конкретных оптических деталей устанавливают ■8 -стандартах, технических условиях или рабочих чертежах на оптическую деталь ло ГОСТ 2.412-81.

1.1§. Глубину царапин и точек не нормируют.

1.20. Пояснения терминов, используемых в настоящем стандарте. приведены в справочном приложении 2.

2. МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ

2.1.    С поверхности деталей, подлежащих контролю ло чистоте поверхности, должны быть удалены все загрязнения.

2.2.    При определении размеров царапин и точек (пл. 1.6, 1.11 и 1.12) поверхности деталей следует просматривать » косонаправ-ленном пучке проходящего или отраженного света, т. е. иод углом к оси детали, на фоне черного экрана. Источником света должна служить лампа накаливания мощностью от 60 до 100 Вт.

2.3.    Контроль чистоты поверхности деталей для классов чистоты 0- 10, 0—20. 0—40 следует проводить измерительным прибором с увеличением, под которым деталь должна рассматриваться в «приборе, для которого лредназначена. но не менее 6*. Увеличения, кроме 6\ следует указывать в чертежах па оптические детали по ГОСТ 2.412-81, утвержденных в усыновленном порядке.

2.4.    Контроль деталей классов чнетоты I—III проводят с ло-мошью лупы или микроскопа с увеличением не менее 6х. Контроль деталей классов чистоты IV—1Ха проводят без применения увеличительного прибора.

2.5.    Размеры царапин и точек (пп. 1.6. 1.11 и 1.12) оценивают сравнением с наборами измеренных образцов царапни и точек.

Допускается размеры царапин и точек измерять с помощью микроокопа с окулярным микрометром с погрешностью:

0.001 мм—для .классов чистоты I—'III:

0.004 мм >    *    »    IV—VI;

0.01 мм »    »    VII-1Ха.

Размеры царапин и точох для деталей диаметром более 300мм классов чистоты VII—1Ха допускается измерять с помощью лупы типа ЛИ-3-10 ло ГОСТ 25706-83.

2.6.    Пели на поверхности деталей классов чистоты I—VII, нормируемой по скоплениям учитываемых дефектов, обнаруживаются скопления царапни и точек, то в таких местах необходимо оп-

ГОСТ 11141—

ределять общую площадь дефектов «а ограниченном участке по всему участку поверхности, занятой скопленном.

2.7.    Размер выколок и заколов на краю детали измеряют от края фаохи к центру рабочей поверхности.

2.8.    Контроль чистоты поверхности деталей ло скоплениям учитываемых дефектов для классов чистоты I—III.

2.8.1.    Определяют раздельно площадь поверхности, занятую точками « царапинами, находящимися на ограниченном участке, диаметр которого выбирают по табл. 2.

2.8.2.    Подсчитывают площадь поверхности, занятую точками, /4РХ. в условных единицах, как сумму частных от деления числа точек nD диаметром D на соответствующий этому диаметру коэффициент Ко по формуле

Y-^.    (и

где рх — класс чистоты поверхности;

и Dmax — минимальный и максимальный диаметры точек на .выбранном участке, мм.

Подсчитывают число точек nD диаметром D, находящихся на выбранном ограниченном участке.

В зависимости от диаметра точек D по табл. 5 -выбирают .коэффициент Ко-

Таблица 5

Коэффициент Ко» эавмнхост 0т днам*тра О точ««. мм

Класе

чисть™

0.100

0,{«Й

0.W3

0.С60

0.04*

O.O’S

o.«>s

0,020

0,016

I

1.0

1.6

II

1.0

1.6

2,5

4.0

6,3

10.0

ш

1.0

1.6

2,5

4.0

6.3

10.0

16,0

25.0

40.0

Продо.хкгние табл. 5

Класс

чистоты

Ко»ффнШМеТ Ко » >»внс«жостн ог аиом?тр« О wm

. мм

0.012

0,010

0,«»

0.006

0,005

0,004

0,00^

1

2.5

4.0

6.3

10,0

16,0

25.0

100,0

II

16,0

25,0

40.0

56.0

100.0

160.0

111

63.0

100,0

Стр. В ГОСТ 11141-84

Для точки, диаметр которой отличается от указанного в табл. 5, коэффициент Ки принимают равным коэффициенту, соответствующему ближайшему большему значению диаметра.

Значения /4РХ для классов чистоты I, II, III не должны превышать соответственно 13. 3, 2.

2 8.3. Подсчитывают максимально допускаемую площадь поверхности, которую 'Могут занимать царапины, по формулам:

Si - <13- ЛрО 0,000:5;    (2)

5,|=<3 -Лр11)0,0.72:    (3)

S„,-(2 Лрп.) 0,010,    (4)

где Sj, Sn. Sm — максимально допускаемая площадь царапин соответственно для классов чистоты I, II, III, мм2.

Подсчитывают площадь поверхности, фактически занятую царапинами на выбранном участке.

Площадь поверхности, фактически занятая царапинами, не должна быть более максимально допускаемой. При определении площади царапин на ограниченном участке следует пользоваться заранее составленной таблицей площадей царапин в зависимости от их размеров.

Царапины, ширина которых менее указанной в табл. 4, при определении суммарной площади не учитывают.

Прихигр контроля чистоты поверхности по схошению учитываемых дефектов указан в справочном приложении 3.

ГОСТ 11141-44 Crp. 9

ПРИЛОЖЕНИЕ I Рекомендуемое

ВЫБОР КЛАССОВ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ

1. Классы чистоты поверхностей оптических деталей следует выбирать в соответствии с табл. I и 2 на осиоизиии требований, предъявляемых к оптическим системам.

Таблица I

Кдке

чистоты

0-10, 0-20 0-40, 1— IV

Материал дата.™

Диаметр детали, мм. не боле*

Оптическое стекло групп химической устойчивости А. Б. а. У по ГОСТ 13659-78. ГОСТ 3514-76 и А. Б, а по ГОСТ 9411-81

150

V—IXa

Не ограничивается

III—IV

Оптическое стекло груш В, д по ГОСТ 13659-78. ГОСТ 3514-76 и групп В. д по ГОСТ 9411-81

100

V—IXa

Не ограничнва стоя

VI11—IXa

Оптические кристаллы: фториды,

гигроскопические, пластичные, твердые (корунды, гранаты) полупроводниковые

250

IV—VII

250

IV—IXa

150

100

V—IXa

Полимеры

250

V—IXa

Металлы

Не ограничивается

III—VII

Волокон нооптические изделия

100

IV —VII

Оптическая керамика

200

IV—V

Оптические епталлы

100

VI—IXa

Не ограничивается

Примечание. Допустимость дефектов на поверхности деталей с проявляющейся в процессе обработки структурой (металлы, волоконнооптичесхие изделия и др.) должна быть установлена в чертежах оптических деталей ik> ГОСТ 2.412-81. утвержденных в установленном порядке

Стр. 10 ГОСТ 11141—«4

Таблица 2

Вмам оятичеекг-х деталей

Класс чисто tv

Сегки и коллективы в приборах с фокусным расстоянием окуляра или последующей оптической системы от 10 до 16 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые по* увеличением более 25*; подложки дифракционных решеток Сетки и коллективы в приборах с фокусным расстояние* окуляра или последующей оптической системы о? 15 до 25 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые под увеличением от 25* до 10х

0-I0. 0-20

0-20

0-40

Сетки ?i коллективы в приборах с фокусным расстоянием окуляра или последующей оптической системы более 25 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые под увеличением менее 10'; подложки растров и детали, находящиеся в плоскости изображения фотоэлектрических систем, работающих в инфракрасной области спектра Первая линза широкоугольных окуляров; первые линзы ми крОобЪективов с увеличением более 10х Призмы, коллективы, первые линзы широкоугольных окуляров и другие детали, расположенные вблизи от плоскости действительного изображения оптической системы; линзы микрообъективов Лиазы окуляров телескопических приборов; окулярные призмы; линзы окуляров микроскопов и измерительных лабораторных приборов; выравнивающие стекла фотоаппаратов; линзы обтекателей и лиазы объективов, работающих в инфракрасной области спектра в условиях солнечной засветки; пластины и кольца стоп; призмы, применяемые * качестве оптико-мехзиичесхих затворов и зеркал отражателей; плоско-параллельные пластины, применяемые в качестве компенсаторов светодслителъиых пластин, селекторов в твердотельных лазерах и приборах, разработанных на основе лазеров, яод-ложхи для ди злектричссхих эеркал в световой зоне, применяемые в твердотельных лазерах и приборах, разработанных на основе лазеров Линзы окуляров, объективов н оборачивающих систем в телескопических приборах; призмы н пластины в параллельных и сходящихся пучках лучей телескопических приборов; лупы; лиазы конденсоров и объективов, работающих а инфракрасной области в условиях отсутствия солнечной засветки; выравнивающие стекла фотографических аппаратов: подложки для интерференционных фильтров; защитные стекла I для элехтронно-лучевых трубок

Ш

IV

| Линзы объективов, окуляров м оборачивающих систем, го-| ловиые призмы, призмы в параллельных пучках н защитные I стекла в телескопических лрнборах; линзы и зеркала фотографических, киносъемочных и линзы проекционных объективов диаметром от 20 до 50 мм; линзы конденсоров и объективен, работающих в инфракрасной области э условиях отсутствия солнечной засветки; активные элементы (торцевая поверхность); цилиндрические дпухканадьные отражатели (внешняя и внутренняя поверхности), применяемые в лазерах

V

ГОСТ 11141-44 Стр. 11

Продолжение табл. 2

Класс ч«стогу

Вига одтичееккх деталей

VI

Линзы объективов и оборачиваюсиих систем телескопических приборов; линзы и зеркала фотографических, киносъемочных и линзы проекционных объективов диаметром от 50 до 100 мм

VII

Линзы и зеркала фотографичесхнх, киносъемочных н астрономических объективов диаметром от 100 до 300 мм; смотровые стекла размером до 300 мм

VIII. IX

Линзы и зеркала фотографических и астрономических объективов диаметром от 300 до 500 ми; смотровые стекла размером от 300 до 500 мм

Villa, 1 Ха

Лиязы к зеркала фотографических и астрономических объективов диаметром более 500 мм; смотровые стехла раз-мером более 500 мм

2. Для визуальных приборов (зрительных труб, биноклей, микроскопов) класс чистоты поверхности устанавливают исходя из диаметра рабочего отверстия поверхности оптической детали.

За диаметр рабочего отверстия принимают участок поверхности оптической детали, покрываемый входящим и оптическую систему осевым пучком лучей, который по выходе из окуляра образует параллельный пучок диаметром 2 мм иди диаметром, равным диаметру выходного зрачка системы, если последний меньше 2 мм (см. чертеж).

Диаметр рабочего отверстия п-й поверхности оптической системы Оя вычисляют по одной нэ следующих формул:

ири D’>1 мм;    (I)

при D'<2 мм,    (2)

где Л* — высота крайнего луча осевого пучка ма той же поверхности, определяемая при расчете оптической системы, мм;

D'— диаметр выходного зрачка системы, мм

Стр. 12 ГОСГ 11141—U

По вычисленному диаметру рабочего отверстия соответствующий ему класс чистоты поверхности оыбира»- по табл. 3.

Таблица 3

Ливиегр рабочего отвереги». км

Кл»се чисгогы

0

0-10, 0-20, 0-40

До 0.5

1

Св. 0,5 до 1,5

II

. 1.5 . 4.5

III

. 4,5 . 10,0

IV

. 10,0 . 25,0

V

. 25,0 . 50,0

VI

. 50,0

VII—IX*

3. Допускается устанавливать классы отличающиеся от указанных в табл. 3. обеспечивающие технические характеристики прибора.

ГОСТ 11141-84 Стр. 13

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Справочное

ПОЯСНЕНИЯ ТЕРМИНОВ, ИСПОЛЬЗУЕМЫХ В НАСТОЯЩЕМ СТАНДАРТЕ

Полотне

ТсрШИ

Выгя.чутая впадина поверхнссга с соотношением размеров

Царапина

Точка

большей оси к меньшей болев 3:!.

Примечание. Участки, на которых царапины настолько близко расположены друг от друга, что между ними нет поверхности с параметром шероховатости не более 0.1 мкм, следует рассматривать как одну царапину

Впаднна или выступ поверхности любого происхождения, в том числе вскрытый пузырь, с соотношением размеров большей оси к меньшей не более 3. 1. Полусумму размеров большей и меныией осей принимают за диаметр точки.

Примечания.

1.    Участок совмещения или хасания царапины с точкой следует относить к точке.

2.    Поперечное сечение углубления царапины или точки при механической обработке имеет угол при вершине около 120’. При ггом глубина царапины иди точки составляет ие 0o.ier 0,3 ширины царапины или диаметра точки

Группа дефектов, расположенных тгким образом, что расстояние между двумя точками или между точкой и царапиной не превышает десятикратного размера наибольшего дефекта (диаметра точки или ширины царапины), а расстояние между двумя царапинами не превышает стокрагной ширины наиболее широкой из них Множество царапин, растоложсгиых хаотично по всей поверхности детали

Скопление

дефектов

Сетка цара-вин

Стр. 14 ГОСТ 11141-84

Т«рмкя

Пояснение

Выколка

Закол

Определение по ГОСТ 13240-78. Размер ляют как диаметр точки Определение по ГОСТ 13240—76. Размер ют ею длиной

выколка олреде-закола определи-

ПРИЛОЖЕНИЕ S Справочное

ПРИМСР КОНТРОЛЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ по скоплению УЧИТЫВАЕМЫХ ДЕФЕКТОВ

Расчет выполняют по п. 2-8 настоящего стандарта.

На попер хносги детали, нормируемой по массу чистота    I,    наблюдается

скопление дефектов. На участке поверхности, занятом скоплениями,    можно    вы

делать три ограниченных участка с дефектами: на 1-м участке: 2 точки диаметром 0,020 мм.

20 точек диаметром 0,010 мм,

50 точек диаметром 0.003 мм.

1    царапина шириной 0,002 и длиной 0,3 мм; на 2-м участке: 5 точек диаметром 0,018 мм,

20 точек диаметром 0.012 мм; на 3-м участке: I цзрзпина шириной 0,004 и длиной 0,5 мм.

2    царапины шириной 0,002 и длиной 0,3 км.

Для площади поверхности, занятой точками, в условных единицах, на 1-м участке

А>'~ 1 + 4 + 25 ~9'

Максимально допускаемая площадь поверхности, которая может быть аа-ията царапинами, мм1

S,-(13—9)Х0,0003 -0,0012.

Площадь царапины, км: Для 2 го участка

Для 3-го участка

1X0.002 X0,3=0.0006. 5    20

/4р,“Т+U’13'

i4pi=0.


ГОСТ 11141—М Стр. 15

Максимально допускаемая площадь поверхности, которая может быть занята царапинами, мм’-’

5,=13X0,0003-0.0039.

Площадь поверхности, фактически занятая царапинами, мм7

I х0.004 х0.5~Ь2Х0.002ХО,3=0.0032.

Площадь точек и царапины на выбранных ограниченных участках поверхности. занятых скоплениями дефектов, не превышает максимально допускаемых значений для класса чистоты I.

Группа П40

Изменение Л I ГОСТ 11141-84 Детали оптические. Классы чистоты поверхностей. Методы контроля

Утверждено и введено в действие Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 27.06.89 .** 2110

Дата введения 01.01.90

Пункт 1,9 дополнить абзацем: «Для деталей, имеющих отношение оссй симметрии более 5 или вс имеющих осей симметрии, размеры и число допустимых дефектов указывают в чертеже ка оптическую деталь*    -л--

Пункты 1.5, 1.6, 1.7. 1 Ю (примечание). Исключить слова: «согласно ГОСТ 2.412-81, утвержденных в установленном порядке».

Пункты 1.8, 2Л. приложение I (примечание к табл. 1). Исключить слова: «по ГОСТ 2.412 6). утвержденных в установленном порядке».

Пункт I 10 Таблица 2. Графа «Скопление дефектов». Заменить прочерк на слова: «Не нормируют» (2 раза}.

Пункт 1 13. Первый абзац. Исключить слова- «и менее»: третий абзац изложить в новой редакции: «Сетку царапин но всей поверх-ноет и не учитывают:

для классов чистоты 1. II — при ширине царапин не болсс 0.001 мм; для класса чистоты III — при ширине царапин не более 0,002 мм; для классов чистоты IV—1Ха — при ширине царапин не более 0,004 мм. Допустимость сетки должна быть указана в чертеже на оптическую деталь» Пункт 1.14. Первый абзац изложить в новой редакции: <Бне светового диаметр.» зефекты поверхности не нормируют. Необходимость нормирования дефекта вне светового диаметра указывают и чертеже на оптическую деталь». ' Пункты 1.14. 1.18. Второй абзац, Исключить слова: «но ГОСТ 2412-81», Пункт 1 1S дополнит ьаимцем (после первого): «Для деталей, не приведенных в гри.южеикк 1. требовании к чистоте поверхности должны Ныть установлены, исходя из требований оптической системы (оптического прибора);

Пункт 2.7 исключить,

Пулкт 2.8 I. Замен кто слова «площадь поверхности, занятую точками и ца-рат и-ми, находящимися' на «число и размеры точек и царапин, находящихся».

(Продолжение см. с. 248)

247

(Продолжение изменения к ГОСТ 11141-84)

Пункт 2.82. Первый абзац, формула (1). экспликация и последний абзац, Заменить обозначения. Лр1на А , рх на РХ; ,

исключить слова: «Подсчитывают число точек nD диаметром D, находящих-.

ся на выбранном ограниченном участке»;

последний абзац. Заменить обозначения: I на PI, II на РП. III ка РШ. Пункт 2 8.3. Формулы (2), (3), (4) Заменить обозначения: .4р1 на dPt ; А р1, па ЛРП ; Лр„, на А рщ ;

экспликация Заменить обозна^ния: I на PI. II на PII; III на PII1. Приложение 2. Графу «Пояснение* для термина «Скопление дефектов» после слова «расположенных» дополнить словами: <на ограниченном участке поверхности детали»;

дин термина «Сетка царапин» дополнить примечанием:    «Примечание.'

Появление сетки цараиии на поверхности обусловлено материалом детали и технологией ее обработки»; термин «Закол». Заменить слова: «Размер закола определяют его длиной» на «Размер закола определяют как диаметр точки. Размер закола на храю детали определяют его длиной либо по краю детали, либо от края фаски к центру рабочей поверхности, исходя из требований, предъявляемых к детали»

Приложение 3 изложить в новой редакции:

*ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Справочное

Пример контроля чистоты поверхностей по скоплению учитываемых дефектов

Расчет выполняют по п 28 настоящего стандарта.

На поверхности детали диаметром 50 мм, нормируемой по классу чветоты PI. наблюдается скопление дефектов, ‘

(Продолжение см. с. 249)

(Продолжение изменения к ГОСТ 11141-84)

По табл. 2 диаметр ограниченного участка ли и этого класса равен 1,0 ми и •суммарная площадь царапин и точек должна быть не более 0,004 мм1.

На участке поверхности, занятом скоплениями, можно выделить дна ограниченных участка с дефектами:

на 1-м участке: 2 точки диаметром 0.018 мм,

17 точек диаметром 0,012 мм,

1    царапина шириной 0.СО2 н длиной 0.3 мм; нз 2 м участке: 1 царапина шириной 0.004 и длиной 0.5 мм,

2    царапины шириной 0.002 и длиной 0.3 мм.

На 1-м участке:

площадь поверхности >1 pj. занятая точками, условные единицы:

1

17 « лдрГ171 2^5~ '

максимально допустимая площадь поверхности Лр), которая может Сыть за-пята царапинами, мм1:

ЛР| — (13 в.8) 0.0003 — 0.0013; илоипль поверхности, фактически занятая царапиной. Sа.,*.. ммг:

50,„= I -0,0020,3 = 0.0006.

(Продолжение г .и. с. 250)

(Продолжение изменения к ГОСТ 11141-84)

На 2-м участке:

площадь поверхности А Р(, занятая точками, условные единицы:

ЛР,-0;

максимально допустимая площадь поверхности А Р1, которая может быть занята царапинами, мм2.

ИР, =13^.0003 -0.0039; площадь поверхности, фактически занятая царапинами S,[„KTl мм}:

S*„T = 1-0.0040.5+2-0,002-0,3 =0,0032.

Таким образом, площадь точек и царапин на выбранных ограниченных участках понсрхиости, занятых скоплениями дефектов, не превышают максимально допустимых значений для класса чистоты Р1».

(ИУС St 11 1989 г.)

Группа П40

Изменение 2 ГОСТ II141— 84 Детали оптические. Классы чистоты поверхностей. Методы контроля

Утверждено и введено » действие Постановленном Государственного комитета СССР по управлению качеством продукции и стандартам от 26.12.89 М 4ISS

Дата введения 01.07.90

Приложение 2. Пояснения терминов «выкачка* и «закол» изложить з ковоб редакции:

(Продолжение см. с. 278)

(Продо.икение изменения к ГОСТ 11141-84}

ПОЯСИСИЯС

Определен кс по ГОСТ 13240-78.

Термии

Выколка

8акол

Примечание. Размер выколки на поверхности вас световой зоны определяют как диаметр точаа, размер выколки на краю детали определяю? от края фаски к центру рабочей поверхности Определение по ГОСТ 13240-78.

Примечание. Размер закола на поверхности вне световой зоны определяют его длиной, размер закола на краю детали определяют or края фаски и центру рабочей поверхности

{ИУС N>4 1990 г.)

Редактор О. К Абашкова Технический редактор В. Н. Малькоаа Корректор С. А. Боссчкоии

Сдлво ■ яаб. 17.0* 84 Подл. к осч. 02Я.84 1А уса. п я 1.13 у<л, *р -отт. 0.V) yq -взд. я. Тир 12 ООО    ____Цои 8 коа.

Ордоа «Знак Почета» И»л»телкстк> стандартов, 121М0. Моема», ГСП. Ноктресвеяскв* вер..» Тип. «Мословсккй печати**. Moots*. Лидии г*р, в. За*. 31S

Цена J коя.

и.—

ftfHVM

ОЛтгыл

т—9

• J

Гг*™**

ОСНОВНЫЕ ЕДИН!

[ЦМ

СИ

Длина

метр

m

ж

Масса

килограмм

kg

кг

Время

секунда

s

е

Сила электрическое о тока

ампер

А

А

Термодинамическая темпера-

vr

%*

туря

кельвин

к

Ь

Количество вещества

моль

mol

моль

Сила сиета

каидела

cd

кд

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ

Плоский угол

радиан

rad

р»д

Телесный угоя

стерадиан

ср

ПРОИЗВОДНЫЕ ЕДИНИЦЫ си

ИМЕЮЩИЕ СПЕЦИАЛЬНЫЕ

НАИМЕНОВАНИЯ

ма л

Винигхг HMfl

Кимам»

(Ни«н|цм

»МММ И **•

мв

ЩДД)и

•«мим СМ

»UMf

Частота

герц

Hz

Гц

С-1

Сида

ньютон

N

н

икг-С1

Давление

паскаль

Ра

11а

И”4 • кг • с-*

Энергия

джоуль

J

д*

**■ кг С-*

Мотивсп.

патт

W

Вт

И1 • КГ - С“’

Количество элсктркчеств*

кулон

С

Кл

с- А

Электрическое напряжение

вольт

V

В

и’ кг С- А-

Электрическая емкость

фарад

F

Ф

кг' с*-А*

Электрическое сопротивление

ом

Й

Ом

м’кг С-5 А-*

Электрическая проводимость

сименс

S

См

кГ* «• А*

Поток иагнктиой индукции

вевяр

Wb

Ы

м* - кг • в“* А-4

Магнитная индукции

тесла

т

Тл

кг с-* -А-'

Индуктивность

генри

И

I'M

м' кг С-’ А-*

Световой поток

люмен

In

дм

кд ср

Освсшгммогть

люкс

1*

як

М-1 • кд ср

Активность радионуклида

беккерель

Вя

Ьк

С-

Поглощение* Д»М

грай

Gy

Гр

мг с-

и*вилир>юннчи излучения

Эквивалмгтаая лоза излучения

зииерт

Sr

м*-с~*

Сохраните страницу в соцсетях:
Другие документы раздела "Прочие"
РАЗДЕЛЫ САЙТА

НОРМАТИВНЫЕ
ДОКУМЕНТЫ

ПРИСОЕДИНЯЙТЕСЬ