Лента новостей RSSRSS КалькуляторыКалькуляторы Вопросы экспертуВопросы эксперту Перейти в видео разделВидео

ГОСТ 22372-77

Материалы диэлектрические. Методы определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·10 в ст. 6 Гц

Заменяет ГОСТ 13671-68 Сведения из перечня "Указатель государственных стандартов СССР 1980 г.", Издательство стандартов 1980

Предлагаем прочесть документ: Материалы диэлектрические. Методы определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·10 в ст. 6 Гц. Если у Вас есть информация, что документ «ГОСТ 22372-77» не является актуальным, просим написать об этом в редакцию сайта.

Скрыть дополнительную информацию

Дата введения: 01.01.1978
18.02.1977 Утвержден Госстандарт СССР
Статус документа на 2016: Актуальный

Страница 1

Страница 2

Страница 3

Страница 4

Страница 5

Страница 6

Страница 7

Страница 8

Страница 9

Страница 10

Страница 11

Страница 12

Страница 13

Страница 14

Страница 15

Страница 16

Страница 17

Страница 18

Страница 19

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

МАТЕРИАЛЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ

МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ от 100 до 5 Ю6 Гц

ГОСТ 22372-77

Издание официальное

Цена 5 коп.


ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ Mockib

УДК .«1.315.61.019.3: 006.314 Группа 319 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР МАТЕРИАЛЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ Методы опргаопен-о дм■ центрическом проницаемости и тангенса угла диаяеитричесии! потерь е дмапазом "•стог о! 100 до 5 1С Гц ЕНексМс та1епа1*. М*1Но(Н о( (1е!егт1па1нэп о! регтп1Ыну зло" рочг*г1ас1ог «-КН т а Ггсржвет ГаП8> »1 100 1о 5- 10* Иг ГОСТ 22372-77 Взамен ГОСТ «41—65. ГОСТ 13671-68 Постаноемимем Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 18 феврале 1977 р. М§ 414 срок действия у станов пен с 01.В1 197В г. до 01.01 19»! г. Несоблюдение стандарта преследуете* по зекОИу Настоящий стандарт распространяется на диэлектрические материалы н устанавливает методы определения относительной диэлектрической проницаемости (диэлектрической проницаемости) е и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5-10е Гц. Методы испытаний, приведенные в настоящем стандарте, применимы в интервале температур от минус 60 до плюс 250°С. Стандартчне распространяется на диэлектрические материалы в виде пленок толщиной менее 0,015 см. Стандарт соответствует рекомендациям СЭВ по стандартизации РС 604—70 и РС 3277—71 за исключением диапазона частот. 1. МЕТОДЫ ОТБОРА ОБРАЗЦОВ 1.1. Порядок отбора, способ обработки и число образцов для испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть указаны в стандартах или другой нормативно-технической документации на испытуемый материал. При отсутствии таких указаний число образцов должно быть не менее трех. 1.2. Образцы для испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть изготовлены в виде круглых, квадратных пластин или цилиндрических трубок. 1.3. Поверхность образца должна быть ровной, гладкой, без трещин, складок, вмятин, царапин, посторонних включений и других дефектов. При необходимости поверхность образца должна И * дам не официальное Перепечете воспрещена Переиздание. Ноябрь 1978 л
Слр. 2 ГОСТ 22372-27 быть очищена растворителем, не влияющим на свойства материала. 1.4. Толщина и площадь испытуемых образцов должны быть такими, чтобы емкость конденсатора, полученная после нанесения электродов на испытуемый образец, была достаточной для определения диэлектрической проницаемости с погрешностью в пределах ±4%. При этом диаметр или ширина плоского образца должны быть от 2.5 до 15 см, а длина трубчатого образца — от 10 до 30 см. Во всех случаях отношение диаметра образца к его толщине должно быть не менее 10. Для материалов с большой (е>30) диэлектрической проницаемостью допустимы образцы меньшего диаметра, но не менее 1 см. 1.5. Толщина образца должна определяться как среднеарифметическое результатов измерений его не менее чем в пяти точках, равномерно расположенных по поверхности образца. Погрешность измерения толщины / в каждой точке должна быть в пределах гЬ (0,0И + 0,0002) см. Каждое из измеренных значений толщины не должно отличаться от среднеарифметического более чем на 5% при толщинах меньше 0,05 см и на 2% при толщине 0,05 см и более. 1.6. Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь материала должно проводиться на одном и том же образце. 1.7. Число испытываемых проб, объем пробы, необходимый для проведения одного испытания для жидкого диэлектрического материала, должны выбираться в соответствии с ГОСТ 6581-75. 2. АППАРАТУРА 2.1. Измерение емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсатора должно проводиться на установках и приборах, удовлетворяющих следующим требованиям: а) измерительная установка, состоящая из источника напряжения, измерительного устройства и индикатора, должна обеспечивать проведение измерений в диапазоне частот от 100 до 5-10* Гц или на фиксированных частотах в этом диапазоне; б) напряжение измерительной цепи должно иметь синусоидальную форму с постоянной амплитудой, а се значение должно быть указано в стандартах или другой нормативно-технической документации на материал и в любом случае не должна превышать напряжение ионизации. Колебания напряжения должны быть в пределах ±3%, а стабильность частоты напряжения должна быть такой, чтобы ее уход за время измерения был не более )% измеряемой частоты. Основная погрешность установки частоты должна быть п пределах ± 1 %;
ГОСТ 22ЭП—77 Стр. 3 в) индикатор, используемый в качестве указателя равновесия моста, должен быть достаточно селективным, чтобы исключить влияние искажения формы кривой питающего напряжения. Ослабление второй гармоники по отношению к основной должно быть не менее 35 дБ; г) основная погрешность прибора (установки), применяемого для измерення емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь» 1е6 конденсатора в диапазоне емкостей от 20 до 1000 пФ, должна быть в пределах; ± (0,01 С+1) пФ при измерении С; ±(0,05 1во+0.0002) при измерении 1е о. 2.2. Установка для температурных измерений, в которую кроме приборов для определения е, 1@о н измерительной ячейки входят измерительная камера с системами нагрева, охлаждения, терморегулирования и приборов для измерення температуры, должна удовлетворять следующим требованиям: а) объем измерительной камеры должен быть достаточным для размещения измерительной ячейки и обеспечивать возможность смены образца; б) металлические элементы камеры должны быть стойкими к повышенной температуре и окислению, а также достаточно прочными. Наиболее приемлемыми для этой цели являются нержавеющая сталь и латунь; в) конструкция камеры не должна ухудшать электрические свойства измерительной ячейки, собственная емкость измерительной ячейки должна быть минимальной н не меняться в процессе измерения; г) измерительная камера должна обеспечивать равномерное распределение температуры по всему объему. Перепад температур в месте расположения образца «е должен превышать 2°С. При необходимости конструкция камеры должна предусматривать принудительное перемешивание воздуха; д) измерительная ячейка н образец не должны подвергаться прямому облучению от нагревательных элементов; ё) система терморегулирования должна обеспечивать равномерное изменение температуры в камере со скоростью от 1 до 15°С в минуту или поддержание температуры на постоянном уровне. Колебания температуры при ступенчатом нагреве в месте расположения обрата во время измерения должны быть в пределах ± 1?С; ж) измерение температуры должно проводиться термопарам:! или другими устройствами, обеспечивающими погрешность измерения в пределах ±1°С. Термопары должны располагаться в максимальной близости от образца и не должны влиять на результаты измерений В камере, рассчитанной на одновременное испытание нескольких образцов, термопары должны располагаться воь лс каждого образца;
Стр. 4 ГОСТ 22372-77 з) при низких температурах необходимо предусматривать меры, исключающие конденсацию влаги на поверхности образца, электродах и изоляции (например, обдув парами жидкого азота). 2.3. Перечень измерительной аппаратуры приведен в справочном приложении. 3. ПОДГОТОВКА К ИСПЫТАНИЯМ 3.1. Нормализация и кондиционирование образцов проводятся в соответствии с требованиями, указанными и стандартах или другой нормативно-технической документации на материалы. При отсутствии таких указаний нормализация твердых образцов должна проводиться в нормальных климатических условиях по ГОСТ 6433.1-71 в течение 48 ч, а жидких —по ГОСТ 6581-75. 3.2. Электродные системы 3.2.1. При измерении допускается применять двухэлектродную или трехэлектродную систему в зависимости от применяемых средств измерений. 3.2.2. Трехэлектродную систему применяют для измерения во всем диапазоне частот. В трехэлектродной системе (табл. 1) ие- „ пользуют потенциальный электрод /, измерительный электрод 2 и охранный электрод (охранное кольцо) 3. Диаметр измерительного электрода, который рекомендуется выбирать из ряда: 1; 2.5; 5; 7.5; 10 см, должен быть указан в стандартах или другой нормативно-технической документации на материал. Диаметр потенциального электрода должен быть не менее внешнего диаметра охранного электрода. Ширина охранного электрода должна быть не менее двойной толщины образца, а зазор между измерительным и охранным электродами # должен быть наименьшим. Рекомендуемая ширина охранного электрода—«е менее 1 см, а ширина зазора — не более 0,2 см. • Для трубчатых образцов ширина потенциального электрода должна быть от 7,5 до 30 см, ширина охранного электрода — не менее 1 см. Площадь измерительного электрода должна соответствовать площади круглого электрода, вычисленной из приведенного выше ряда. Формулы для определения емкости трехэлектродной системы в вакууме Со. необходимые для вычисления диэлектрической проницаемости, приведены в табл. 1 и на черт. 1. 3.2.3. Двухэлектродную систему рекомендуется использовать, если приборы не позволяют подключение охранного электрода и поверхностной проводимостью образца можно пренебречь.
ГОСТ 22172-77 Стр. 5 Таблица I Формулы для вычисления С* при измерениях с применением трехэдектродиой системы Размеры в сч Расположение эдекгрооав и обратив Круглые электроды Цилиндрические электроды Мо ж электродная емкость а • вакууме С», пФ Со-0.0695 ---Щ~ В = I —2.932— 1всЬ(0"854 ■ -X ), если а В — 1, если а>(. и Размеры электродов выбираются в соответствии с п. 3.2.2. В двухэлектроаной системе (табл. 2) электроды могут быть меньше образца или доходить до края образца. Если электроды одинаковы и меньше чем образец, то они должны отстоять от края не менее чем на двойную толщину образца. При этом несоосность электродов не должна превышать 1% диаметра измерительного электрода. Если электроды неодинаковы, то диаметр большего электрода должен превышать диаметр меньшего по крайней мере на двойную толщину образца.
г Стр. 6 ГОСТ 22371-77 При вычислении диэлектрической проницаемости необходимо учитывать краевую емкость Сщ и емкость по отношению к земле Сг. Емкость образца С* определяют по формуле С, = С;-ГОСТ 18394-73 или из сплавов этих металлов толщиной до 50 мкм. алюминия— по ГОСТ 618-73 толщиной до 15 мкм или отожженного алюминия толщиной до 30 мкм). Электроды притираются к образцу с помощью тонкого слоя конденсаторного вазелина — по ГОСТ 5774-76, конденсаторного масла — по ГОСТ 5775-68. кремннйорганической жидкости по ГОСТ 10916-74 или другого аналогичного материала, обладающего малыми диэлектрическими потерями (1р;о не более 3-Ю-4);
ГОСТ 22372-77 Стр. 7 Таблица 2 Формулы для вычисления С* и С, при измерениях с применением двухэлектродной системы Размеры в см Расположение »лектр©до« и обр а шов Круглые электроды с*1 *■* I Круглые электроды а Цилиндрические электроды е*1 I— 4 Межмектродвая емкость в вакууме С„. аФ С. = 0.0695^1 Краеаая емкость С_. л I для а
Стр. 6 ГОСТ Н372—77 0,020 0.015 0.010 0.005 • / А • / / { .Черт. 2 Зависимость поправки I для краевой Г>) в ВИДС СЛОЯ серебра, Ц.ИН* емкости (табл. 2) от отношения-^, ка или алюминия, нанесенного ' на поверхность образца ижига-ННСм, катодным распылением или испарением в вакууме. Края таких электродов должны быть точи» определены, а покрытие должно быть плотным, равномерным и без просветов Электроды, 'нанесенные вжиганнем. могут быть применимы для материалов, выдерживающих температуру отжига (керамика, слюда, стекло). Электроды, нанесенные распылением металла в накууме. могут применяться при испытании материалов, не и. 1 и гниющих своих свойств и вакууме, и могут наноситься на образец до кондиционирования: и) в виде токопроводящей резины с учетом ее нагревостой-косги и морозостойкости. Такие электроды целесообразно применять в тех случаях, когда недопустимо какое-либо влияние электродов или способа их нанесения на свойства материала, а также при необходимости сокращения времени испытаний или при измерениях осведомительного характера. Размеры электродов при этом должны контролироваться особенно тщательно; г) в виде токопроводящнх покрытий, изготовленных из различных видов паст и лаков, содержащих, например, серебро. Некоторые из этих видов покрытий, обладающие пористостью, позволяющей проникать влаге, могут наноситься на образец до кондиционирования, При нанесении электродов необходимо следить за тем, чтобы их края были ровными. * Недопустимо применение лаков н наст, содержащих растворитель, влияющий на свойства измеряемого материала; д) п виде металлических нажимных электродов из стали по ГОСТ 5632-72. цветных или благородных металлов, устойчивых против коррозии и не окисляющих»» после выдержки при повышенной температуре. Шероховатое и, рабочих поверхностей электродов должна быть не хуже 10-го класса по ГОСТ 2789-73. 3.3.2. При выборе того или иною типа электродов необходимо учитывать то. что их нанесение не должно изменять физико-химических н электрических свойств испытуемых материалов.
ГОСТ 32371-77 Стр. 9 При нанесении электродов' необходимо предохранять поверхность образца от загрязнений. 3.3.3. Сопротивление между крайними точками электрода (п. 3.3.) 6, в, г), измеренное цилиндрическими щупами диаметром 1,5—2 мм со сферическим концом, должно быть не более 0.1 Ом. 3.3.4. Линейные размеры любых электродов, определяющие их площадь, должны быть измерены с погрешностью в пределах. ±(0,005 1 + 0.01) см, где 1 —линейный размер электрода. 3.3.5. Электроды для испытания жидких диэлектрических материалов должны изготовляться по ГОСТ 6581-75. 3.4. Виды электродов 3.4.1. Образец может быть снабжен электродами, нанесенными или приложенными к его поверхности. Материал электрода выбирается в соответствии с п. 3.3, а размеры электродов — в соответствии с п. 3.2. 3.4.2. При измерениях на частотах до 1 МГц включительно электродные устройства (системы проводников, осуществляющих связь испытуемого образца с прибором) могут выполняться в виде рычажных, винтовых и пружинных устройств, которые должны удовлетворять следующим требованиям: а) сопротивление подводящих проводов и их контактов с электродами и измерительными приборами в сумме не должно превышать 0,03 Ом на постоянном токе; б) давление электрода на образец должно быть Ю±2 кН/м2; в) тангенс угла диэлектрических потерь электродного устройства не должен превышать 0.0001. 3.4.3. При частотах свыше 0.1 МГц рекомендуется измерительная ячейка с микрометрическим винтом или аналогичным устройством, схематическое изображение которой приведено на черт. 3. При частотах свыше 1 МГц применение этой ячейки обязательно. Измерительная ячейка с микрометрическим винтом должна отвечать следующим требованиям: 1 а) погрешность отсчета и установления расстояний между электродами / должна быть в пределах ±(0.01г" + 0.00025) см; б) диаметр электродов должен выбираться в соответствии с п. 3.2. Наиболее удобен диаметр 5 см. При этом максимальная емкость конденсаторов, получаемая сближением электродов, должна быть не менее 600 пФ; в) рабочие поверхности электродов должны быть притерты друг к другу н иметь шероховатость не хуже 10-го класса по ГОСТ 2789-73; г) несоосность электродов не должна быть более 0.01 см. При измерении образец помещают между электродами измерительной ячейки и ПОДВИЖНЫЙ электрод опускают до тех пор, пока образец
Стр. 10 ГОСТ 12372-77 Измерительная ячейка Черт. 3 /—микрометрическая голо»»». 7—пространстве аля обрата; влемиы: *—цлаыекыЯ тара: 5—вода* ж-пня Х1г»гр;д.
ГОСТ 22372-77 Стр. »1 емкость системы при измерении с образцом и без него. При этом можно использовать охранный электрод. При использовании метода погружения подбирается жидкость, диэлектрическая проницаемость которой близка или равняется диэлектрической проницаемости образца, а тангенс угла диэлектрических потерь пренебрежимо мал. В этом случае результат измерения практически не зависит от толщины образца. Если применяются две жидкости, толщина образца из формулы для определения г исключается. 4. ПРОВЕДЕНИЕ ИСПЫТАНИЙ 4.1. Определение емкости и тангенса -угла диэлектрических, потерь конденсатора на установках или приборах, удовлетворяющих требованиям п. 2.1, проводится в соответствии с правилами работы на них, утвержденными в установленном порядке. 4.2. Испытания образцов должны проводиться при температуре окружающей среды 15—35СС и относительной влажности воздуха 45—80%, если в стандартах или другой нормативно-технической документации на материал не указаны другие условия испытаний. 4.3. Если измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь проводят при высоких или низких температурах, то метод подъема или понижения температуры (непрерывный или ступенчатый) должен быть указан в стандартах или другой нормативно-технической документации на материал. 4.4. При непрерывном изменении температуры образца максимальная скорость подъема (понижения) температуры не должна превышать 2^С в минуту. 4.5. При ступенчатом методе повышения (понижения) температуры максимальная скорость изменения температуры в камере не должна превышать 15°С в минуту. Жидкость выдерживают 20 мин при заданной температуре, а образцы твердых диэлектрических материалов по 10 мин на каждый миллиметр толщины образца, если другое время выдержки образца на каждой ступени не указано в стандарте или другой нормативно-технической документации на материал. Примечание. В образцах под действием температуры могут происходить структурные изменения, влияющие на результаты испытаний, поэтому пос* лс окончания измерений в условиях повышенной (пониженной) температуры рекомендуется производить дополнительные измерения при исходной температуре, чтобы определить, не вызвало ли действие высоких (низких) температур изменений в образце.
Ор 12 ГОСТ 22372-77 I. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИСПЫТАНИЯ 5.1. Относительная диэлектрическая проницаемость диэлектрического материала е определяется как отношение емкости С* конденсатора, в котором пространство между и вокруг электродов полностью заполнено испытываемым диэлектрическим материалом, к емкости таким же образом расположенных электродов в вакууме Со. При определении относительной диэлектрической проницаемости диэлектрического материала по формуле (3) можно заменить с практически достаточной точностью меж электродную емкость, в вакууме Со межэлектродной емкостью в воздухе Сш. так как относительная диэлектрическая проницаемость сухого воздуха при нормальных атмосферных условиях близка к единице
ГОСТ 22172-77 Стр. 13 где 1§;д1—тангенс угла диэлектрических потерь конденсатора с образцом; 160? — тангенс угла диэлектрических потерь конденсатора без образца; Сх — полная емкость конденсатора с образцом. пФ; С* — емкость образца. пФ. определяемая по формуле С* = 0,0695-р- , (6) где й — диамегр электрода; прн измерении на приборах или установках, приспособленных для определения добротности измеряемой цепи (резонансные методы), по формуле (*6ввоГь--- где О1 — добротность контура, когда .между пластинами конденсатора находится образец; (23 — добротность контура, когда образец удален; Срез— полная емкость контура. пФ, равная емкости эталонного конденсатора настроенного прибора, когда измеряемый конденсатор отключен; Сх — емкость испытуемого образца, определяемая по форму-ле (6). 5.5. Формулы для вычисления диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь с использованием бескон- 4 тактных электродов (п. 3.4.4) приведены в табл. 3. 5.6. Диэлектрическую проницаемость е для жидких диэлектри-. ческих материалов определяют по формулам: а) для трехзажимных ячеек где С\ — емкость измерительной ячейки, пФ, заполненной испытываемым жидким диэлектриком; С0— емкость измерительной ячейки с воздухом, пФ; б) для двухзажимных ячеек 1-й—Си где С — постоянная ячейка. пФ. определяемая по формуле (10).
I Стр. 14 ГОСТ 12371-77 • Таблица 3 Формулы для вычисления диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических, потерь при измерениях с применением бесконтактных электродов Диэлектрическая проницаемость Тангенс угла диэлектрических потерь 1в. 6 1. Микрометрические электроды в воздухе (с охранным кольцом) I ДС . и 1_яу . ю с, г или, если выравнивается на новую величину 1'в. ДС=0; I 2. Электроды в форме плит—измерение в жидкости Щ уГ (О+дс) м-ие'Де) ] (С^ДО-и+^'М 1 1с1+Л1[С1-1С, + ДСК1-г18,вс)1 1 1о+Л1'С(-(С,+дс)-
ГОСТ 22372-77 Стр. 15 II р н м г ч а и н е. АС — изменение емкости системы при вложении образца (положительное, если емкость увеличивается); С\ — емкость системы с образцом; Л 1кб — увеличение тангенса угла диэлектрических потерь системы после вложении образца; >к бс — тангенс угла диэлектрических потерь системы с образном; (»—расстояние между плитами; /—средняя толщина о^р.пиа Л)-~* '".Т.1 ; С| = е|-Со — емкость системы только с жидкостью; ее — диэлектрическая проницаемость жидкости при температуре измерения (для воздуха евс*1,00.): С, — емкосль системы в вакууме для данного расположения электродов, пФ; С»» 0.08854 где Л — площадь образца, см1 (или площадь электрода, «сап размеры образца такие же, как размеры электрода или больше): 4» —внешний диаметр внутреннего электрода. й\ — внутренний диаметр обрата; й\ — внешний диаметр образна; — ал утренний диаметр внешнего электрода. При методе двух жидкостей индексы 1 н 2 приходятся соответственно на первую и вторую жидкость. С,- с'-г--с'" , (Ю) где Сн — емкость измерительной ячейки, пФ. заполненной жидкостью с заранее известным значением с* (так называемой градунровочноЛ или калибровочной жидкостью). 5.7. Тангенс угла диэлектрических потерь 1§»б для жидких диэлектрических материалов вычисляют по формулам: а) для трехзажимных ячеек г 18*~1ео|—с7*ебо; (П) б) для двухзажимных ячеек с>1'Св где Л| = е—Е| или Д» = 1.у6—1в6ь' л — число измерений;
Ор. 16 ГОСТ 2»71—77 *■». 1{Г0| — измеренные значения диэлектрической проницаемости н тангенса угла диэлектрических потерь соответствен-- - но; е, — среднеарифметические значения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь соответственно. , 5.11. Результаты каждого испытания должны быть оформлены протоколом, в котором указывают: а) описание испытуемого материала (его наименование и марку, предприятие-изготовитель, внешний вид и т. п.); б) форму, размеры и обработку образцов; в) число образцов, подвергнутых испытанию; г) материал, форму и размеры электродов; д) время кондиционирования образца и условия окружающей среды при кондиционировании и во время испытаний; е) тип применяемой аппаратуры и частоту, на которой проводилось испытание; ж) метод измерения; з) тангенс угла диэлектрических потерь и диэлектрическую проницаемосьь (среднеарифметическое значение, допускаемое отклонение и число измерений); и) дату проведения испытания; к) обозначение настоящего стандарта. 6. «РЕБОВЛНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ 6.1. Аппаратура, применяемая для измерения электрических параметров диэлектрического материала, должна соответствовать требованиям безопасности, установленным в ГОСТ 22261-76. 6.2. Для предупреждения поражения электрическим током необходимо предусмотреть: надежное заземление установок (приборов); надежную изоляцию наружной электропроводки; ограждение всех доступных для прикосновения токоведущих частей установок. 6.3. Яа каждом испытательном участке должна быть инструкция по технике безопасности и журнал проведения инструктажа, утвержденные в установленном порядке.
ГОСТ 21)72— П Стр. 17 ПРИЛОЖЕНИЕ Справочное Рекомендуемая аппаратура для измерения емкости и тангенса угла диэлектрических потерь Тип прнГюра частот, к Г» Рекомендуемые пределы измерений Основные логрешногтн измерений Дпэлькомето «Таигенс-2М» 10»—10* |ев-(0.5-т-4—1) е- (0.02-2)% .Мост Р-589 1 С-{0.01 пФ—10 мкФ) 1еб—(з- ю-*—о.о С-*(0.1+А) % 18 б— ±(0,02 1евт-+3 • 10-') Куметр Е4—7 50 -35-10я С-(25—459) пФ Определяются измеряемыми значениями куметр Е4-Ю 1-100 С—(80—110000) пФ ±4.1;2>% Мост Е7-4 01 и 1 С—(10—10*) пФ 18- б- (0,005-0,1) С-±{2+Щ) % 1Еб±(5- 10>+0,1) Измеритель емкости цифровой К-8—4 1 С- (0.03-15,999- 10в)пФ 18б-(5- 10-*—999- 10-*) С-0,001С+0,02 пФ + + 1 ед. счета 1йб-*(0,02 (еб + 5-10-*) Диэлькометр •Январь» 0,00001—ОД С—(0,01-400) пФ 1йб(10-*-() С-(0,1-2,0)% 1й 6—от 5 до 20% в зависимости от измеряемого значения
КОНТ^ ЭК V Группа 319 Из меньше М 1 ГОСТ 22372-77 Материалы диэлектрические. Методы определения диэлектрическое проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5-10* Гц Постановлениями Государственного комитета СССР по стандартам от 22.02.83 № 887. 904 срок введения установлен с 01.07.83 Под обозначением стандарта на обложке н первой странице указать обозначение: (СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81). Вводная часть. Первый абзаи дополнить словами: «(с 1985 г. от 15 до 300-10е и;!" последний абзац изложить в новой редакции: «Стандарт соответствует СТ СЭВ 3164—81 н СТ СЭВ 3166—81 (см. справочное приложение 2)». Пункты 1.4, 1.5, 2.2 (е, ж), 5.8, 5.9. Заменить слова: «в пределах» на ГОСТ 9763-67 на ГОСТ 22261-82. Приложение. Графа «Тип прибора». Заменить слово: «Январь» на «Янтарь». Стандарт дополнить приложением—2: 'ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Справочнве ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ О СООТВЕТСТВИИ ГОСТ 22372-77 СТ СЭВ 3164—81 и СТ СЭВ 3166-81 Разд. I ГОСТ 22372-77 соответствует разд. III и пп. 4 4 1—444 СТ СЭВ 3164-81 и п. 1.2 СТ СЭВ 3166—81. Разд. II ГОСТ 22372-77. п. 2.1 соответствует пп. 4.1: 411—414 СТ СЭВ 3164—81 н п. 1.4 СТ СЭВ 3166—В). Разд. 111 ГОСТ 22372-77 соответствует пп. 4.2; 4.2.1-.4 23 43* 43 1—43 Ю СТ СЭВ 3164-81 и п 1.5 СТ СЭВ 3166—81. ......... Разд. IV ГОСТ 22372-77 соответствует пп. 4.4.4; 4.45 СТ СЭВ 3164—81 и п. 1.6 СТ СЭВ 3166—81. Разд. V ГОСТ 22372-77 соответствует .пп. 4.2.4; 5; СТ СЭВ 3164—81 в п. 1.7 СТ СЭВ 3166-81». (ИУС № 6 1983 Г.)
Сохраните страницу в соцсетях:
Другие документы раздела "Прочие"
РАЗДЕЛЫ САЙТА

НОРМАТИВНЫЕ
ДОКУМЕНТЫ

ПРИСОЕДИНЯЙТЕСЬ